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低温挠卷试验装置
低温挠卷试验装置标准：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
低温挠卷试验装置说明：
导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后，立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料，则先行卷绕，再冷却相同之时间后，立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料，检视其表面产生龟裂、裂痕。
低温挠卷试验装置技术参数：
温度
Temp. 冷却方式
Cooling method 降温速度
Cooling speed 精度
Accuracy 材质
Material 圆杆
Rod 内箱
Test chamber 线套 体积
Dimension
(W×D×H) 重量
Weight 电源
Power
-40～ 130℃ 气冷式
Air Frozen 常温
Room temp. ～-40℃,
60min ±2℃ 内外箱，
SUS304# Φ4.0～37.5mm，共12支 45×50×50cm Φ3.5/6/
10/12/
16mm
各2只 100×80×135cm 262kg 1∮
AC 220V 30A
